No．25　(2022.7.26)

▲▽今回の内容▲▽

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1. 令和4年(2022年)7月1日付オープンファシリティ装置の登録・変更・取消のお知らせ

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令和4年7月1日付で、オープンファシリティ登録装置に以下のとおり登録、変更、取消がございました。

●追加登録装置　８件
1）AP-100297　光学顕微鏡カメラシステム　／カールツァイス／Axiophot, Axiocam 705 color2）AP-100298　電気的特性評価装置　　／ズースマイクロテック、アジレント／PM5、4156C
3）AP-100299　電子ビーム描画装置　／エリオニクス／ELS-3700
4）AP-100300　両面マスクアライナ　／ズースマイクロテック／MA-6
5）AP-100301　EB加熱・抵抗加熱蒸着装置　／アルバック／EBX-8C
6）AP-100302　スパッタ装置　／菅製作／SSP3000plus
7）AP-100303　ダイシングソー　／DISCO／DAD322
8）AP-100304　エリプソメータ　／日本分光／M-500S

●料金変更装置　６件
1）AP-100237　オージェ電子分光装置／日本電子／JAMP-9500F
2）AP-100238　X線光電子分光装置②　／日本電子／JPS-9200
3）AP-100243　ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)　／日本電子／JSM-6500F
4）AP-100244　透過電子顕微鏡(TEM) ①　／日本電子／JEM-2010
5）AP-100245　フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)　／日本電子／JXA-8530F
6）AP-100246　複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 　／日本電子／JIB-4601F
※AP-100243～AP-100246（4件）：材料・分析加工サービス開始装置

○装置名・型式名等の変更装置　５件
・上記AP-100243～AP-100246
・AP-100191　核磁気共鳴装置 (NMR) （液体試料専用）／ジオル・レゾナンス／ECZ-500R

●登録取消　２件
1）AP-100140　質量分析装置 (MALDI TOF／TOF)　／エービー・サイエックス／TOF/TOF 5800
2）AP-100276　逆二重励起光音響分光法測定装置（RDB-PAS）　／自作／SP1

利用を希望する装置に関するご相談は，各装置の「お問い合わせ」より装置管理者にご連絡ください。

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2. 「オープンファシリティ装置（登録・変更・取消）申請書類」提出期限のお知らせ（学内限定）

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令和５年１月１日付でオープンファシリティへ装置登録を検討されている方へ、
登録申請書類の提出時期についてご案内致します。

■登録日：令和５年１月１日（登録内容や料金の変更・取り消し申請を含む）
■申請書類の提出期限：令和４年１０月１１日（火）締切

★装置の新規登録や登録内容の変更をご検討中の方は、最新版の申請書書式をお取り寄せのうえ、
ご提出ください（現在最新版は、R4年7月改訂版です）。

なお、オープンファシリティへの装置登録は、年４回行なっております。
■登録時期：4 ⽉１⽇付、７⽉ 1 ⽇付、10 ⽉ 1 ⽇付、1 ⽉１⽇付　※変更する場合あり

申請書および関連書類の提出期限は、登録⽇の約３ヶ⽉前（12 週間前）です。
（例）４⽉１⽇付け登録の場合は１⽉７⽇までに提出
※登録⽉ 3 か⽉前の⽉の 10 ⽇前後が目安です。書類はゆとりをもってご提出ください。

【お問合せ先】
GFCオープンファシリティ部門　OF登録担当
E-Mail：OF_regist[at]gfc.hokudai.ac.jp　／　TEL：内線9230