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【ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡（FE ―SEM）】

メーカー／型番：日本電子／JSM-6500F

AP-200034

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状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学部材料化学実験棟
フロア：Floor	-

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JSM-6500F

カテゴリー：Category

電磁波分析装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノ・マイクロマテリアル分析研究室
info-nma-of@eng.hokudai.ac.jp
0117066363

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部（ナノ・マイクロマテリアル分析研究室）
Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology

利用料金：Fee

初回講習料Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）		￥35,200
	学外（その他・民間企業）		￥35,200

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥2,900 / 時間
		データあり	￥2,200 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥5,500 / 時間
		データあり	￥4,300 / 時間

技術代行料Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥11,700 / 時間
		データあり	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥14,300 / 時間
		データあり	￥13,100 / 時間

技術補助料Technical Assisting Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥7,300 / 時間
		データあり	￥6,600 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥9,900 / 時間
		データあり	￥8,700 / 時間

技術支援料（通常）Technical Support Fee (Normal)	学外（他大学・公的機関）		￥4,400 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥4,400 / 時間

技術支援料（高度）Technical Support Fee (High)	学外（他大学・公的機関）		￥8,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥8,800 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）		￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥11,000 / 時間

備考：Note	＊マテリアル先端リサーチインフラ事業装置＊NMA＊HK-302
概要・性能：Performance	試料表面を収束電子線で走査し、放射する電子線を画像化する装置。表面構造の解析に用いる。
仕様：Specs	・電子銃:電界放射型電子銃(FE)　・加速電圧:0.5～30 kV　・倍率:×25～19,000　・2次電子分解能:1.0nm(15kV)　2.2nm(1kV)　・分析機能:EDS(C～U)、 EBSD　・試料ホルダー:最大150mm×10mm(H)

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/05/20
初回講習料：Initial Training Fee
連絡事項：Note