オープンファシリティ

【ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡（FE ―SEM）】

メーカー／型番：日本電子／JSM-6500F

AP-200034

状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学部材料化学実験棟
フロア：Floor	-

施設名：Facility Name	ナノ・マイクロマテリアル分析研究室 Laboratory of Nano-Micro Material Analysis

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JSM-6500F

カテゴリー：Category

顕微鏡(電子)／走査型電子顕微鏡(SEM)
Electron Microscopes／Scanning Electron Microscope (SEM)

装置管理者：Instrument Manager

ナノ・マイクロマテリアル分析研究室

0117066363

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部（ナノ・マイクロマテリアル分析研究室）
Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）		￥35,200
	学外（その他・民間企業）		￥35,200

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥3,200 / 時間
		データあり	￥2,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥5,800 / 時間
		データあり	￥4,500 / 時間

技術代行料Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥12,000 / 時間
		データあり	￥11,300 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥14,600 / 時間
		データあり	￥13,300 / 時間

技術補助料Technical Assisting Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥7,600 / 時間
		データあり	￥6,900 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥10,200 / 時間
		データあり	￥8,900 / 時間

技術支援料（通常）Technical Support Fee (Normal)	学外（他大学・公的機関）		￥4,400 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥4,400 / 時間

技術支援料（高度）Technical Support Fee (High)	学外（他大学・公的機関）		￥8,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥8,800 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）		￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥11,000 / 時間

備考：Note	＊マテリアル先端リサーチインフラ事業装置＊NMA＊HK-302
概要・性能：Performance	試料表面を収束電子線で走査し、放射する電子線を画像化する装置。表面構造の解析に用いる。
仕様：Specs	・電子銃：電界放射型電子銃(FE)　・加速電圧：0.5～30 kV　　・2次電子分解能：1.5nm(15kV)　5.0nm(1kV)　・分析機能：EBSD ・試料ホルダー：32mmΦ×20mmH, 12.5mmΦ×10mmH

2026/04/30 ★ EBSDの一時利用停止について

2026/04/23 ★ EBSD利用再開について

2026/04/06 ★ EBSD測定用ソフトの不具合について

2026/01/29 ★ 利用再開について

2026/01/27 ★ 利用停止について

2025/08/29 ★ 利用再開のお知らせ

2025/08/26 ★ 装置の一時利用停止について

2022/03/29 ★ EDSの利用停止について

2022/03/18 ★ 課題番号の入力について

の利用のため、下記の内容で講習を申し込みます。よろしいですか？ Apply with the following information. OK?
課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2026/05/20
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note