オープンファシリティ

【電界放射型走査型電子顕微鏡】

Field emission scanning electron microscope

メーカー／型番：日本電子／JSM-6700FT

AP-200017

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状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JSM-6700FT

カテゴリー：Category

画像分析装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノテク連携室
nano-support-GFC@es.hokudai.ac.jp
0117069340

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

電子科学研究所
Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology

利用料金：Fee

初回講習料Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）		￥22,000
	学外（その他・民間企業）		￥22,000

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥1,400 / 時間
		データあり	￥1,100 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥1,400 / 時間
		データあり	￥1,100 / 時間

技術代行料Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥10,200 / 時間
		データあり	￥9,900 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥10,200 / 時間
		データあり	￥9,900 / 時間

技術補助料Technical Assisting Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥5,800 / 時間
		データあり	￥5,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥5,800 / 時間
		データあり	￥5,500 / 時間

技術支援料（通常）Technical Support Fee (Normal)	学外（他大学・公的機関）		￥4,400 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥4,400 / 時間

技術支援料（高度）Technical Support Fee (High)	学外（他大学・公的機関）		￥8,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥8,800 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）		￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥11,000 / 時間

備考：Note	マテリアル先端リサーチインフラ事業装置（ARIM装置番号：HK-625）
概要・性能：Performance	試料表面を集束電子線で走査し、放射する電子を画像化する装置。表面構造の解析に用いる。
仕様：Specs	・加速電圧: 0.5 ～30kV ・倍率:×25～19,000 (LM mode) 　　　　×100～650,000 (SEM mode) ・2次電子分解能: 1.0nm (at 15kV), 2.2nm (at 1kV) ・EDS機能、2探針マイクロプローブ装備

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/05/20
初回講習料：Initial Training Fee
連絡事項：Note