オープンファシリティ

【分子間力プローブ顕微鏡】

Atomic Force Microscope

メーカー／型番：Asylum Research／Molecular Force Probe ３D

AP-100047

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状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

Asylum Research／Molecular Force Probe ３D
Asylum Research／Molecular Force Probe ３D

カテゴリー：Category

表面分析・形態観測用装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノテク連携室
nano-support-GFC@es.hokudai.ac.jp
0117069340

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

電子科学研究所／電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥140,800
	学外（その他・民間企業）	￥140,800

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥1,700 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥2,200 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥12,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥13,000 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

受託分析料金：Material Analysis/Processing Fee

材料分析・加工料参照

概要・性能：Performance	先端を鋭く尖らせた探針を試料表面に近づけ、あるいは接触させて、試料表面を走査することで表面の物性、形状を調べる装置。
仕様：Specs		Sample size 20x20 mm. Stage size 30x30 mm. Tapping mode resolution 0.03 nm. Contact mode resolution 0.01 nm. Force mode resolution 18 pN/m. Laser 860nm, 1mW.

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/05
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note