オープンファシリティ

【複合量子ビーム超高圧電子顕微鏡】

Multi-beam Ultra-high Voltage Electron Microscopy

メーカー／型番：日本電子／JEM-ARM1300

AP-100179

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お問い合わせContact

状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

設置場所Location

建屋・棟：Building	工学部新世代先端材料研究実験棟
フロア：Floor	1-104

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JEM-ARM1300
JEOL／JEM-ARM1300

カテゴリー：Category

専用測定装置

装置管理者：Instrument Manager

柴山環樹
shiba@qe.eng.hokudai.ac.jp
0117066774

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部／工学部
Faculty of Engineering

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥30,800
	学外（その他・民間企業）	￥30,800

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥7,100 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥9,200 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥15,900 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥18,000 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

受託分析料金：Material Analysis/Processing Fee

材料分析・加工料参照

概要・性能：Performance

２つのイオンビームラインに加えて、フェムト秒あるいはナノ秒のパルスレーザーあるいは連続発振のHe-Cdレーザーを同時に試料に照射しながら原子レベルで物質の構造や微細組織の観察が出来る世界にも稀な超高圧電子顕微鏡です。
試料の温度も液体窒素温度から約700度の高温まで変化することや試料の雰囲気を制御することができます。

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/06
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note