オープンファシリティ

【原子間力顕微鏡システム】

Atomic force microscope system

メーカー／型番：JPKインスツルメンツ／NanoWizard NW３-01H

AP-100164

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状態：Status

故障中 Needs Repair

予約状況
Equipment Availability

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

JPKインスツルメンツ／NanoWizard NW３-01H
JPK Instruments／NanoWizard NW３-01H

カテゴリー：Category

画像分析装置

装置管理者：Instrument Manager

中村葵
shien@cris.hokudai.ac.jp
0117069230

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

総合イノベーション創発機構オープンファシリティ部門／産学・地域協働推進機構
GFC Open Facility Div.

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥17,600
	学外（その他・民間企業）	￥17,600

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥2,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥3,200 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

概要・性能：Performance	本システムは、試料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得るタイプの顕微鏡である。
参考論文：Scholarly Articles	「Evaluation of crystal nanoplatelet aggregation in intact butter by atomic force microscopy」、LWT、2021、Kotaro Matsui

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/06
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note