オープンファシリティ

【原子間力顕微鏡システム】

Atomic force microscope system

メーカー／型番：JPKインスツルメンツ／NanoWizard NW３-01H

AP-100164

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状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

JPKインスツルメンツ／NanoWizard NW３-01H
JPK Instruments／NanoWizard NW３-01H

カテゴリー：Category

顕微鏡(その他)／走査プローブ顕微鏡(SPM)
Other Microscopes／Scanning Probe Microscope (SPM)

装置管理者：Instrument Manager

GFCstaff（3rd_bio中村）

0117069230

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

総合研究基盤連携センター　機器分析・オープンファシリティユニット／産学・地域協働推進機構
GFC Instrumental Analysis and Open Facility Unit

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥17,600
	学外（その他・民間企業）	￥17,600

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥2,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥3,200 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

概要・性能：Performance	本システムは、試料と探針の原子間にはたらく力を検出して画像を得るタイプの顕微鏡である。
参考論文：Scholarly Articles	「Evaluation of crystal nanoplatelet aggregation in intact butter by atomic force microscopy」、LWT、2021、Kotaro Matsui

2025/12/22 ★ AP-100164原子間力顕微鏡システムの稼働再開について

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2026/01/29
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note