オープンファシリティ

【走査透過型分析電子顕微鏡】

Analytical scanning transmission electron microscope

メーカー／型番：日本電子／JEM-2100

AP-100344

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状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

設置場所Location

建屋・棟：Building	工学部新世代先端材料研究実験棟
フロア：Floor	2階201室（データ解析・処理室）

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JEM-2100
JEOL／JEM-2100

カテゴリー：Category

画像分析装置

装置管理者：Instrument Manager

柴山環樹
shiba@qe.eng.hokudai.ac.jp
0117066774

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部
Faculty of Engineering

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥17,600
	学外（その他・民間企業）	￥17,600

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥3,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥3,900 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥12,700 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

参照 URL：

https://www.gfc.hokudai.ac.jp/system/

概要・性能：Performance	X線エネルギー分散分光（EDS）が附属した走査透過型電子顕微鏡で、サブマイクロからナノスケールの微細組織観察と元素分析を行うことが出来る。ボトムにCCDカメラを装着し点分解能は、0.23nm、格子分解能は、0.14nmである。	A scanning transmission electron microscope with X-ray energy dispersive spectroscopy (EDS) enables sub-micro to nanoscale microstructural observation and elemental analysis. A CCD camera is attached to the bottom, and the point resolution is 0.23 nm and the grid resolution is 0.14 nm.
仕様：Specs	X線エネルギー分散分光（EDS）が附属した走査透過型電子顕微鏡で、サブマイクロからナノスケールの微細組織観察と元素分析を行うことが出来る。ボトムにCCDカメラを装着し点分解能は、0.23nm、格子分解能は、0.14nmである。	Cathode of E-Gun：LaB6 Acc. voltage：80，100，120，160，200 kV TEM holder：Double tilt TEM holder, Analytical Be double tilt TEM holder, Tip-on TEM holder EDS：SSD, Peltier cooling system CCD camera：Gatan Ultra Scan (2K x 2K)
説明：Guide	X線エネルギー分散分光（EDS）が附属した走査透過型電子顕微鏡で、サブマイクロからナノスケールの微細組織観察と元素分析を行うことが出来る。ボトムにCCDカメラを装着しているのでフィルム現像等の作業が不用である。点分解能は、0.23nm、格子分解能は、0.14nmで、炭素からウランまでの元素の定性あるいは定量分析が可能である。	A scanning transmission electron microscope with X-ray energy dispersive spectroscopy (EDS) enables sub-micro to nanoscale microstructural observation and elemental analysis. Since the CCD camera is attached to the bottom, work such as film development is unnecessary. With a point resolution of 0.23 nm and a lattice resolution of 0.14 nm, qualitative or quantitative analysis of elements from carbon to uranium is possible.

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/06
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note