オープンファシリティ

【量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置】

Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials

メーカー／型番：日本電子／JEM-ARM200F NEOARM

AP-100333

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お問い合わせContact

状態：Status

稼働中 In Service

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学部R棟
フロア：Floor	1階R158室

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JEM-ARM200F NEOARM
JEOL／JEM-ARM200F NEOARM

カテゴリー：Category

画像取得装置

装置管理者：Instrument Manager

柴山環樹
shiba@qe.eng.hokudai.ac.jp
0117066774

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部
Faculty of Engineering

利用料金：Fee

初回講習料Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥35,200
	学外（その他・民間企業）	￥35,200

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥16,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥21,400 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥25,300 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥30,200 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

概要・性能：Performance	TEM・STEM共に収差補正機能を持ち、高分解能像の取得が可能。	Both TEM and STEM have an aberration correction equipment and take the acquisition of high-resolution images.
仕様：Specs	分解能：　・STEM HAADF像 70pm(200kV), 100pm(80kV), 　・TEM情報限界 100pm(200kV), 110pm(80kV), 電子銃：冷陰極電解放出形電子銃収差補正装置：　・STEM：NEO ASCOR HOC 　・TEM：CETCOR with DSS 加速電圧：200 kV, 80kV カメラ：Gatan One View オプション：EDS、加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー	Point to point resolution ・STEM HAADF image 70pm(200kV), 100pm(80kV), ・TEM information limit 100pm(200kV), 110pm(80kV), E-gun：Cold-cathode field-emission electron gun Spherical aberration corrector：・STEM：NEO ASCOR HOC ・TEM：CETCOR with DSS Acceleration voltage：200 kV, 80kV Camera：Gatan One View Option：EDS, in-situ heating, in-situ IV measurement double tilt holder

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/05/20
初回講習料：Initial Training Fee
連絡事項：Note