| メーカー／型番：Manufacturer／Model Name |
日本電子／JEM-9320FIB
JEOL／JEM-9320FIB
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| カテゴリー：Category |
微細加工・表面加工装置／集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
Microfabrication & Surface Processing Equipment／Focused Ion Beam System
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| 装置管理者：Instrument Manager |
柴山環樹
0117066774
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| 装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider |
工学部（超高圧電子顕微鏡研究室）
Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology
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| 利用料金：Fee |
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| 予約利用料Facility Usage Fee |
学外（他大学・公的機関） |
データなし |
￥2,800 / 時間 |
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データあり |
￥2,200 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
データなし |
￥6,300 / 時間 |
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データあり |
￥4,900 / 時間 |
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| 技術代行料Processing Fee |
学外（他大学・公的機関） |
データなし |
￥11,600 / 時間 |
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データあり |
￥11,000 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
データなし |
￥15,100 / 時間 |
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データあり |
￥13,700 / 時間 |
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| 技術補助料Technical Assisting Fee |
学外（他大学・公的機関） |
データなし |
￥7,200 / 時間 |
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データあり |
￥6,600 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
データなし |
￥10,700 / 時間 |
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データあり |
￥9,300 / 時間 |
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| 技術支援料（通常）Technical Support Fee (Normal) |
学外（他大学・公的機関） |
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￥4,400 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
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￥4,400 / 時間 |
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| 技術支援料（高度）Technical Support Fee (High) |
学外（他大学・公的機関） |
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￥8,800 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
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￥8,800 / 時間 |
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| 技術相談料Technical Consulting Fee |
学外（他大学・公的機関） |
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￥11,000 / 時間 |
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学外（その他・民間企業） |
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￥11,000 / 時間 |
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