オープンファシリティ

【収差補正走査型透過電子顕微鏡】

Aberration corrected scanning transmission electoron microscope

メーカー／型番：日本電子／JEM-ARM200F

AP-100148

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状態：Status

メンテナンス中 Under Maintenance

予約状況
Equipment Availability

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JEM-ARM200F
JEOL／JEM-ARM200F

カテゴリー：Category

画像取得装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノテク連携室
nano-support-GFC@es.hokudai.ac.jp
0117069340

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

電子科学研究所／電子科学研究所
Research Institute for Electronic Science

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥44,000
	学外（その他・民間企業）	￥44,000

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥22,700 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥29,500 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥31,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥38,300 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

受託分析料金：Material Analysis/Processing Fee

材料分析・加工料参照

備考：Note	利用はマテリアル先端リサーチインフラ事業装置から申込ください。
概要・性能：Performance	STEM用の収差補正レンズを備え、サブオングストロームオーダーの高分解を達成した電子顕微鏡（TEM、STEM）装置である。付属されたEDSでは高精度の元素マッピングが構築も可能。また、EELS測定ができる。

2024/04/01 ★ ★予約申請について

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/05
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note