| 備考：Note |
https://xpslab.eng.hokudai.ac.jp/をご確認下さい |
| 概要・性能：Performance |
大気中、液中で試料上の凹凸などナノスケールでの高分解能観察が可能である。また、試料の表面形状・表面粗さの評価を行うことが出来る。 |
It is possible to observe high-resolution images of unevenness on a sample in air or in liquid at the nanoscale. In addition, it is possible to evaluate the surface shape and surface roughness of the sample. |
| 仕様：Specs |
カンチレバーホルダー：AFM、DFM
測定モード：AFMモード、DFMモード
スキャナー：100µｍ、20µｍ
スキャナー走査範囲：150µmx150µｍ(高さ5µm)、20µmx20µｍ(高さ1.5µm)
最大試料サイズ：Φ35mm、厚み10mm |
Cantilever holder: AFM, DFM
Measurement mode: AFM mode, DFM mode
Scanner: 100µm, 20µm
Scanner scanning range: 150µmx150µm (5µm height), 20µmx20µm (1.5µm height)
Maximum sample size: Φ35mm, thickness 10mm |
| 説明：Guide |
大気中の他、液中での観察も出来る。
微小な針（探針：プローブ）で試料表面をなぞって、その形状や性質をナノスケールまで観察することができる。
表面粗さ評価、粒子解析、３次元描写などの画像処理が行える。 |
Observation is possible not only in air but also in liquid.
It is possible to observe the shape and properties down to the nanoscale by tracing the sample surface with a minute needle (probe).
Image processing such as surface roughness evaluation, particle analysis, and 3D rendering can be performed. |
