オープンファシリティ

【透過電子顕微鏡(TEM)】

Transmission Electron Microscope

メーカー／型番：日本電子／JEM-2010

AP-100268

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お問い合わせContact

状態：Status

メンテナンス中 Under Maintenance

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学部材料化学北棟MC113
フロア：Floor	-

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JEM-2010
JEOL／JEM-2010

カテゴリー：Category

顕微鏡(電子)／透過型電子顕微鏡(TEM)
／透過型電子顕微鏡(TEM)

装置管理者：Instrument Manager

ナノ・マイクロマテリアル分析研究室

0117066363

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部／橋本　直幸
Faculty of Engineering

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥35,200
	学外（その他・民間企業）	￥35,200

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥3,200 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥4,100 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥12,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥12,900 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

備考：Note	＊NMA（ARIM装置番号：HK-301）
概要・性能：Performance	電子顕微鏡の一種であり、高電圧で加速された電子線を試料に照射して、試料を透過した電子の干渉像を拡大して観察する。
参考論文：Scholarly Articles	「Synthesis of ZrN–SiO2 core–shell particles by a sol–gel process and use as particle-based structured coloring material」、Journal of the American Ceramic Society、2024、Shinji Noguchi 「Structural Color Materials with Color Mixing Effect Using Noble Metal-Free Plasmonic Particles in SiO2-ZrN System」、Advanced Optical Materials、2024、Shinji Noguchi

2022/07/26 ★ ホルダー用のデシケータ設置について

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課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/07/22
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note