オープンファシリティ

【ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)】

FE-SEM

メーカー／型番：日本電子／JSM-7200F

AP-100294

戻るBack

お問い合わせContact

状態：Status

メンテナンス中 Under Maintenance

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学研究院材料化学実験棟
フロア：Floor	1F MC-014

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JSM-7200F
FE-SEM／JSM-7200F

カテゴリー：Category

表面分析・形態観測用装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノ・マイクロマテリアル分析研究室
info-nma-of@eng.hokudai.ac.jp
0117066363

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

工学部
Faculty of Engineering

利用料金：Fee

初回講習料Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）	￥8,800
	学外（その他・民間企業）	￥8,800

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	￥5,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥7,500 / 時間

材料分析・加工料Material Analysis/Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	￥14,600 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥16,300 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）	￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）	￥14,300 / 時間

概要・性能：Performance	ショットキー電界放出形の走査電子顕微鏡である。インレンズ型の対物レンズであるため高分解能で観察が行える。TTL検出器が備わっているため低加速での観察も可能。反射電子検出器と高速EDS分析でサンプルの情報を幅広く得ることができる。
仕様：Specs	二次電子分解能:1.6nm 保証(加速電圧1kV) 1.0nm 保証(加速電圧20kV) 倍率:10-1,00,000 倍加速電圧:0.01-30kV 試料ステージ:フルユーセントリック・ゴニオメーターステージ試料移動範囲:X: 70mm Y: 50mm Z:2~41mm
説明：Guide	＊取り扱いが難しいため、学外利用については、機器分析受託サービスのみご利用可能です。

の利用のため、下記の内容で講習を申し込みます。よろしいですか？ Apply with the following information. OK?
課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/05/31
初回講習料：Initial Training Fee
連絡事項：Note