オープンファシリティ

【超高真空・極低温・高磁場SPM(LT-UHV-SPM)】

メーカー／型番：日本電子／JAFM4500LT

AP-200035

戻るBack

お問い合わせContact

状態：Status

停止中 Out of Service

予約状況
Equipment Availability

建屋・棟：Building	工学部L棟
フロア：Floor	L152

メーカー／型番：Manufacturer／Model Name

日本電子／JAFM4500LT

カテゴリー：Category

画像分析装置

装置管理者：Instrument Manager

ナノテク装置管理者（情報）
nanolab@ist.hokudai.ac.jp
6539

装置所属／装置供出者：Affiliated Department／Instrument Provider

情報科学研究院
Advanced Research Infrastructure for Materials and Nanotechnology

利用料金：Fee

初回講習料（基本料）Initial Training Fee	学外（他大学・公的機関）		￥26,400
	学外（その他・民間企業）		￥26,400

予約利用料Facility Usage Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥1,900 / 時間
		データあり	￥1,500 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥8,800 / 時間
		データあり	￥6,900 / 時間

技術代行料Processing Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥10,700 / 時間
		データあり	￥10,300 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥17,600 / 時間
		データあり	￥15,700 / 時間

技術補助料Technical Assisting Fee	学外（他大学・公的機関）	データなし	￥6,300 / 時間
		データあり	￥5,900 / 時間
	学外（その他・民間企業）	データなし	￥13,200 / 時間
		データあり	￥11,300 / 時間

技術支援料（通常）Technical Support Fee (Normal)	学外（他大学・公的機関）		￥4,400 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥4,400 / 時間

技術支援料（高度）Technical Support Fee (High)	学外（他大学・公的機関）		￥8,800 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥8,800 / 時間

技術相談料Technical Consulting Fee	学外（他大学・公的機関）		￥11,000 / 時間
	学外（その他・民間企業）		￥11,000 / 時間

備考：Note	マテリアル先端リサーチインフラ事業装置
概要・性能：Performance	試料観察や機械特性・電気特性等の様々な特性をナノスケールで計測可能な走査型プローブ顕微鏡。
仕様：Specs	・測定モード:STM/NC-AFM、AFM　光ファイバ干渉方式　・液体Heクライオスタット　4.2K　・垂直磁場8T　水平磁場2T　・勾配磁場印加可能

の利用のため、下記の内容で講習を申し込みます。よろしいですか？ Apply with the following information. OK?
課題番号 * ：Issue No.
利用責任者：User Manager
利用者：User
申込日：Application Date	2025/06/06
初回講習料（基本料）：Initial Training Fee
連絡事項：Note